日本電測(cè)densoku便攜式薄膜膜厚計(jì)QNIx系列介紹

便攜式膜厚儀，可輕松提高麻煩的膜厚測(cè)量的生產(chǎn)效率

QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測(cè)量薄膜厚度，而無(wú)需攜帶笨重的薄膜厚度計(jì)。
無(wú)線(xiàn)測(cè)量無(wú)需電纜。它有助于將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C，也有助于防止測(cè)量過(guò)程中掉落事故。

QNIx系列功能

無(wú)需進(jìn)行膜校準(zhǔn)即可進(jìn)行精確的膜厚度測(cè)量

出廠(chǎng)時(shí)輸入了16點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。這樣就無(wú)需進(jìn)行麻煩的薄膜打樣工作，并且可以進(jìn)行精確的薄膜厚度測(cè)量。

膜厚測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)

在傳統(tǒng)的測(cè)量?jī)x器中，測(cè)量?jī)x器通過(guò)電纜連接到個(gè)人計(jì)算機(jī)以傳輸測(cè)量數(shù)據(jù)。QNIx系列使用“無(wú)線(xiàn)加密gou”，只需將其插入U(xiǎn)SB端口即可進(jìn)行傳輸。您可以更快，更輕松地瀏覽測(cè)量數(shù)據(jù)。

超輕便的無(wú)線(xiàn)測(cè)量?jī)x

探頭測(cè)得的數(shù)據(jù)被無(wú)線(xiàn)發(fā)送到主機(jī)。它降低了被電纜卡住，像傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣妨礙或?qū)е碌涫鹿实娘L(fēng)險(xiǎn)。此外，該探頭重30克，非常輕巧，因此您無(wú)需攜帶笨重的儀器。

一種不易折斷且不會(huì)在測(cè)量對(duì)象上留下痕跡的探針。

QNIx系列探頭被增強(qiáng)塑料包圍，耐用性提高了30％。即使發(fā)生極少數(shù)的故障，拆卸和維修也很容易，因此縮短了維修時(shí)間。此外，它配備有紅寶石芯片，可以安全地進(jìn)行測(cè)量，而不會(huì)損壞要測(cè)量的對(duì)象（樣品）。

QNIx系列比較規(guī)格表

	QNIx 8500	QNIx 4500/4200	QNIx 7500	QNIx Carcheck系統(tǒng)	QNIx方便
可測(cè)量的電影	[F]黑色金屬上的非磁性涂層 [N]黑色金屬上的非導(dǎo)電涂層 [FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層			[FN]黑色金屬和有色金屬材料上的非磁性和非導(dǎo)電涂層	[FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導(dǎo)電膜厚度
材料識(shí)別	黑色金屬和有色金屬的自動(dòng)識(shí)別和交換	黑色金屬和有色金屬的自動(dòng)識(shí)別和交換	用戶(hù)的轉(zhuǎn)換	黑色金屬和有色金屬的自動(dòng)識(shí)別和交換	鐵/有色，自動(dòng)識(shí)別模式轉(zhuǎn)換
測(cè)量原理	[F]磁通量（霍爾效應(yīng)） [N]渦流
測(cè)量范圍	0至2,000μm （可選：5,000μm）	0至3,000μm	0至2,000μm （可選：5,000μm）	0至5,000μm	0?500微米
zui高分辨率	0.1μm，1μm [M] 0.01μm	1微米	0.1微米	0.1微米，1微米	5微米
配置格式	0點(diǎn)校正用戶(hù)校準(zhǔn)：1 [M] 100	0點(diǎn)校正	0點(diǎn)校正	沒(méi)有校準(zhǔn)功能	沒(méi)有校準(zhǔn)功能
準(zhǔn)確度	±（1微米+ 2％） ±3.5％（2毫米或更多） [T] ± （0.3微米+ 2％）	±（2μm+ 3％）	±（1微米+ 3％）	±（1μm+ 2％） ±3.5％（2mm以上）	±（10微米+ 5％）
測(cè)量速度	1,500ms （大約40次/分鐘） [T] 920ms （大約65次/分鐘） [R] 1,600ms （大約37次/分鐘）	600ms （約70次/分鐘）	1,300ms （約46次/分鐘）	1,500ms （約40次/分鐘）	600ms （約100次/分鐘）